測(cè)試能力               

單顆粒子強(qiáng)度                  

單顆粒子直徑                  

單顆粒子硬度                  

計(jì)算粒子的特征            

力測(cè)量細(xì)節(jié)             

范圍（大）  250 cN          

偏差      ±2 cN          

相對(duì)偏差      ±1 cN

(兩個(gè)測(cè)試之間)

粒子尺寸測(cè)試細(xì)節(jié)        

范圍     0.8到3mm(可根據(jù)不同粒

         子大小更換tip 尺寸）  

TIP Small                        

Tip Middle                       

Tip Large                        

偏差   ± 0.1  mm          

相對(duì)偏差   ± 0.02  mm        

高分辨率測(cè)量Vs 壓縮炭黑

步進(jìn)電機(jī)給定    0.00172mm/step

力測(cè)量         每秒50讀書

校準(zhǔn)                    

在每一系列炭黑測(cè)試前進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn)

(n=typically 20 resp.50)            

力矩傳感器                     

零位點(diǎn)                         

設(shè)備在負(fù)載下的偏差  

 測(cè)試模式（可選擇）     

ASTM D5230    恒定的速度  

               Mm/sec

ASTM D3313    恒定的力      

               Cn/sec

存樣轉(zhuǎn)盤                   

采樣率         55.6 Hz

采樣轉(zhuǎn)盤       共14個(gè)樣品口方便測(cè)試

安全標(biāo)準(zhǔn)                   

認(rèn)證                       CE marking

SGS-USTC certified

設(shè)備表面                     

與計(jì)算機(jī)通訊的RS232 通訊串口          

為存樣自動(dòng)轉(zhuǎn)盤留取的第二個(gè)串口  

軟件                         

HITEC Applications                       

操作環(huán)境     Microsoft windows 32/64 bit        

             XP/W7/W8／win10

特點(diǎn)                              

自動(dòng)認(rèn)證測(cè)試結(jié)果        

附帶PDF電子操作手冊(cè)    

擴(kuò)展數(shù)據(jù)處理            

擴(kuò)展維護(hù)保養(yǎng)支持        

多可以在同一臺(tái)計(jì)算機(jī)

操作四臺(tái)設(shè)備（包括IPHT/DABS）            

操作語(yǔ)言（英語(yǔ)，德語(yǔ)，法語(yǔ)）   

軟件可以安裝在個(gè)人電腦 

固定載重?zé)o需反復(fù)校準(zhǔn)